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TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素、分子等結(jié)構信息，其特點在二次離子來自表面單個原子層分子層（1nm以內(nèi)），僅帶出表面的化學信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點，廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。
| 項目概述
飛行時間二次離子質(zhì)譜技術（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發(fā)樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量，具有極高分辨率的測量技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。
TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素、分子等結(jié)構信息，其特點在二次離子來自表面單個原子層分子層（1nm以內(nèi)），僅帶出表面的化學信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點，廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。
| 測試目的
（1）當產(chǎn)品表面存在微小的異物，而常規(guī)的成分測試方法無法準確對異物進行定性定量分析，可選擇TOF-SIMS進行分析，TOF-SIMS能分析≥10μm直徑的異物成分。
（2）當產(chǎn)品表面膜層太薄，無法使用常規(guī)測試進行成分分析，可選擇TOF-SIMS進行分析，利用TOF-SIMS可定性分析膜層的成分。
（3）當產(chǎn)品表面出現(xiàn)異物，但是未能確定異物的種類，利用TOF-SIMS成分分析，不僅可以分析出異物所含元素，還可以分析出異物的分子式，包括有機物分子式。
（4）當膜層與基材截面出現(xiàn)分層等問題，但是未能觀察到明顯的異物痕跡，可使用TOF-SIMS分析表面痕量物質(zhì)成分，以確定截面是否存在外來污染，檢出限高達ppm級別。
| 美信優(yōu)勢
1、專業(yè)團隊：擁有多名經(jīng)驗豐富的檢測工程師和技術專家。
2、先進設備：配備國際領先的檢測設備，確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性。
3、高效服務：快速響應客戶需求，提供一站式高效檢測服務。
4、權威認證：實驗室通過ISO/IEC 17025認證，檢測報告具有國際公信力。
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